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SN74LVTH18646APM - 

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Texas Instruments SN74LVTH18646APM
声明:图片仅供参考,请以实物为准!
制造商产品编号:
SN74LVTH18646APM
仓库库存编号:
296-8703-ND
描述:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
ROHS:
无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求
湿气敏感性等级(MSL):
3(168 小时)
详细描述:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
订购热线: 400-900-3095  0755-21000796, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
由于产品数据库庞大,部分产品信息可能未能及时更新,下单前请与销售人员确认好实时在库数量,谢谢合作!

SN74LVTH18646APM产品属性


产品规格
  封装/外壳  64-LQFP  
  制造商  Texas Instruments  
  安装类型  表面贴装  
  工作温度  -40°C ~ 85°C  
  系列  74LVTH  
  包装  托盘   
  零件状态  在售  
  供应商器件封装  64-LQFP(10x10)  
  逻辑类型  ABT 扫描测试设备,带收发器和寄存器  
  位数  18  
  电源电压  2.7 V ~ 3.6 V  
关键词         

产品资料
数据列表 SN54LVTH18(2)646A, SN74LVTH18(2)646A
标准包装 160
其它名称 296-8703

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电话:400-900-3095
QQ:800152669
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