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SN74BCT8374ADWRE4 - 

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

  • 已过时的产品。
Texas Instruments SN74BCT8374ADWRE4
声明：图片仅供参考，请以实物为准！
制造商产品编号：
SN74BCT8374ADWRE4
仓库库存编号：
SN74BCT8374ADWRE4-ND
描述：
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
ROHS：
无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求
湿气敏感性等级（MSL）：
1（无限）
详细描述：
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
订购热线： 400-900-3095  0755-21000796, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
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SN74BCT8374ADWRE4产品属性


产品规格
  封装/外壳  24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽）  
  制造商  Texas Instruments  
  安装类型  表面贴装  
  工作温度  0°C ~ 70°C  
  系列  74BCT  
  包装  带卷（TR）   
  零件状态  过期  
  供应商器件封装  24-SOIC  
  逻辑类型  扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器  
  位数  8  
  电源电压  4.5 V ~ 5.5 V  
关键词         

产品资料
数据列表 SN54/74BCT8374A
标准包装 2,000

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电话:400-900-3095
QQ:800152669
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