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SN74ABTH18652APM - 

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Texas Instruments SN74ABTH18652APM
声明：图片仅供参考，请以实物为准！
制造商产品编号：
SN74ABTH18652APM
仓库库存编号：
296-4137-ND
描述：
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
ROHS：
无铅 / 符合限制有害物质指令(RoHS)规范要求
湿气敏感性等级（MSL）：
3（168 小时）
详细描述：
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
订购热线： 400-900-3095  0755-21000796, QQ:800152669, Email:sales@szcwdz.com
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SN74ABTH18652APM产品属性


产品规格
  封装/外壳  64-LQFP  
  制造商  Texas Instruments  
  安装类型  表面贴装  
  工作温度  -40°C ~ 85°C  
  系列  74ABTH  
  包装  托盘   
  零件状态  在售  
  供应商器件封装  64-LQFP（10x10）  
  逻辑类型  扫描测试设备，带收发器和寄存器  
  位数  18  
  电源电压  4.5 V ~ 5.5 V  
关键词         

产品资料
数据列表 SN54ABTH18(2)652A, SN74ABTH18(2)652A
标准包装 160
其它名称 296-4137
SN74ABTH18652APMG4
SN74ABTH18652APMG4-ND

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电话:400-900-3095
QQ:800152669
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