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制造商 / 描述 / 型号 / 仓库库存编号 / 别名
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
型号：
SN74BCT8245ANT
仓库库存编号：
SN74BCT8245ANT-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-PDIP
型号：
SN74BCT8245ANTG4
仓库库存编号：
SN74BCT8245ANTG4-ND
别名：SN74BCT8245ANTE4
SN74BCT8245ANTE4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
详细描述：Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
型号：
SN74BCT8373ADWR
仓库库存编号：
SN74BCT8373ADWR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
详细描述：Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
型号：
SN74BCT8373ADWRE4
仓库库存编号：
SN74BCT8373ADWRE4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
详细描述：Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
型号：
SN74BCT8373ANT
仓库库存编号：
296-33848-5-ND
别名：296-33848-5
SN74BCT8373ANT-ND
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
型号：
SN74BCT8374ADWR
仓库库存编号：
SN74BCT8374ADWR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-SOIC
型号：
SN74BCT8374ADWRE4
仓库库存编号：
SN74BCT8374ADWRE4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
型号：
SN74BCT8374ANT
仓库库存编号：
SN74BCT8374ANT-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
详细描述：Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
型号：
SN74BCT8374ANTG4
仓库库存编号：
SN74BCT8374ANTG4-ND
别名：SN74BCT8374ANTE4
SN74BCT8374ANTE4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP
详细描述：TTL/BTL Registered Transceiver IC 52-QFP (10x10)
型号：
SN74FB2033ARCR
仓库库存编号：
SN74FB2033ARCR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP
详细描述：TTL/BTL Registered Transceiver IC 52-QFP (10x10)
型号：
SN74FB2033KRCR
仓库库存编号：
SN74FB2033KRCR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
详细描述：TTL/BTL Transceiver/Translator IC 52-QFP (10x10)
型号：
SN74FB2040RCR
仓库库存编号：
SN74FB2040RCR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
详细描述：TTL/BTL Transceiver/Translator IC 52-QFP (10x10)
型号：
SN74FB2040RCRG3
仓库库存编号：
SN74FB2040RCRG3-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC TXRX ADJ EDGE 8BIT 56BGA
详细描述：LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver IC 56-BGA MICROSTAR JUNIOR (7.0x4.5)
型号：
SN74GTLP2033ZQLR
仓库库存编号：
SN74GTLP2033ZQLR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC TXRX ADJ EDGE 8BIT 56BGA
详细描述：LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver IC 56-BGA MICROSTAR JUNIOR (7.0x4.5)
型号：
SN74GTLP2034ZQLR
仓库库存编号：
SN74GTLP2034ZQLR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC TXRX ADJ EDGE 8BIT 56BGA
详细描述：LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver IC 56-BGA MICROSTAR JUNIOR (7.0x4.5)
型号：
SN74GTLP22033ZQLR
仓库库存编号：
SN74GTLP22033ZQLR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC TXRX ADJ EDGE 8BIT 56BGA
详细描述：LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver IC 56-BGA MICROSTAR JUNIOR (7.0x4.5)
型号：
SN74GTLP22034ZQLR
仓库库存编号：
SN74GTLP22034ZQLR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC COMPARATOR MAGNITUDE 20SOIC
详细描述：Magnitude Comparator 8 Bit Active Low Output A=B, A>B 20-SOIC
型号：
SN74HC684DWR
仓库库存编号：
SN74HC684DWR-ND
别名：SN74HC684DWRE4
SN74HC684DWRE4-ND
SN74HC684DWRG4
SN74HC684DWRG4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8543DLR
仓库库存编号：
SN74ABT8543DLR-ND
别名：SN74ABT8543DLRG4
SN74ABT8543DLRG4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8543DWR
仓库库存编号：
SN74ABT8543DWR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8543DWRE4
仓库库存编号：
SN74ABT8543DWRE4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8646DWR
仓库库存编号：
SN74ABT8646DWR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8646DWRE4
仓库库存编号：
SN74ABT8646DWRE4-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8652DLR
仓库库存编号：
SN74ABT8652DLR-ND
规格：位数 8,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8652DLRG4
仓库库存编号：
SN74ABT8652DLRG4-ND
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