产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
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制造商 / 描述 / 型号 / 仓库库存编号 / 别名
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Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28SSOP
详细描述：Parity Generator/Checker IC 28-SSOP
型号：
74ABT899CMSAX
仓库库存编号：
74ABT899CMSAX-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28PLCC
详细描述：Parity Generator/Checker IC 28-PLCC (11.5x11.5)
型号：
74ABT899CQCX
仓库库存编号：
74ABT899CQCX-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28SOIC
详细描述：Parity Generator/Checker IC 28-SOIC
型号：
74ABT899CSC
仓库库存编号：
74ABT899CSC-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Fairchild/ON Semiconductor
TXRX W/GENERATOR&CHECKER 28PLCC
详细描述：Parity Generator/Checker IC 28-PLCC (11.5x11.5)
型号：
74ABT899CQC
仓库库存编号：
74ABT899CQC-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
详细描述：Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18504PMR
仓库库存编号：
SN74ABT18504PMR-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
详细描述：Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
型号：
SN74ABT18504PMRG4
仓库库存编号：
SN74ABT18504PMRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
详细描述：Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-SSOP
型号：
SN74ABT18640DLR
仓库库存编号：
SN74ABT18640DLR-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
详细描述：Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-SSOP
型号：
SN74ABT18640DLRG4
仓库库存编号：
SN74ABT18640DLRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8543DLR
仓库库存编号：
SN74ABT8543DLR-ND
别名：SN74ABT8543DLRG4
SN74ABT8543DLRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8543DWR
仓库库存编号：
SN74ABT8543DWR-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8543DWRE4
仓库库存编号：
SN74ABT8543DWRE4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8646DWR
仓库库存编号：
SN74ABT8646DWR-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8646DWRE4
仓库库存编号：
SN74ABT8646DWRE4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8652DLR
仓库库存编号：
SN74ABT8652DLR-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8652DLRG4
仓库库存编号：
SN74ABT8652DLRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8652DWR
仓库库存编号：
SN74ABT8652DWR-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8652DWRE4
仓库库存编号：
SN74ABT8652DWRE4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8952DLR
仓库库存编号：
SN74ABT8952DLR-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SSOP
型号：
SN74ABT8952DLRG4
仓库库存编号：
SN74ABT8952DLRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC 18BIT INV BUS TXRX 56-TSSOP
详细描述：Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP
型号：
74ABT18640DGGRE4
仓库库存编号：
74ABT18640DGGRE4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 56TSSOP
详细描述：Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-TSSOP
型号：
74ABT18640DGGRG4
仓库库存编号：
74ABT18640DGGRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8543DWRG4
仓库库存编号：
SN74ABT8543DWRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8646DWRG4
仓库库存编号：
SN74ABT8646DWRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
无铅
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
详细描述：Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8652DWRG4
仓库库存编号：
SN74ABT8652DWRG4-ND
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
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Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
详细描述：Scan Test Device with Registered Bus Transceiver IC 28-SOIC
型号：
SN74ABT8952DWR
仓库库存编号：
296-29238-1-ND
别名：296-29238-1
产品分类：逻辑 - 专用逻辑,规格：系列 74ABT,
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